Main Article Content

Abstract

Salah satu cara untuk mengenali suatu citra adalah dengan membedakan tekstur yang merupakan
komponen dasar pembentuk citra. Tekstur citra dapat dibedakan dengan kerapatan, keseragaman, keteraturan,
kekasaran, dan lain-lain. Karena komputer tidak dapat membedakan tekstur seperti halnya penglihatan
manusia, maka digunakan analisis tekstur untuk mengetahui pola suatu citra digital berdasarkan ciri yang
diperoleh secara matematis.
Makalah ini membahas hasil penelitian salah satu metode analisis tekstur yaitu metode run length.
Metode ini mengenali jumlah run pada suatu piksel dengan level intensitas sama dan berurutan dalam satu arah
tertentu. Kemudian ciri tekstur dapat diperoleh dari nilai SRE (Short Run Emphasis), LRE (Long Run
Emphasis), GRU (Grey Level Uniformity), RLU (Run Length Uniformity), dan RPC (Run Percentage). Kelima
ciri tersebut kemudian digunakan untuk klasifikasi dengan menggunakan metode LDA (Linear Discriminant
Analysis) dan k-NN (k-Nearest Neighbor). Sedangkan citra tekstur yang dianalisis berasal dari VisTex
Database.
Dari hasil penelitian diketahui bahwa metode run length ini dapat digunakan untuk membedakan tekstur
halus dan tekstur kasar. Tekstur halus akan menghasilkan nilai SRE, RLU, dan RPC yang besar dan nilai LRE
kecil. Sebaliknya tekstur kasar akan menghasilkan nilai LRE besar namun nilai SRE, RLU, dan RPC yang kecil.
Setelah dilakukan klasifikasi dengan metode LDA dan k-NN dengan k=1, 3, 5, dan 7, diperoleh hasil klasifikasi
terbaik menggunakan metode k-NN untuk k=1 dengan tingkat kesalahan klasifikasi sebesar 0%.
Kata kunci: tekstur, analisis tekstur, run length, klasifikasi, LDA, k-NN.

Article Details